基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究

摘要：

集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难；IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用；文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法.

关键词：SOC、IEEE Std 1500、IP核、边界扫描、测试

所属期刊栏目：20

分类号：TP331.1(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60871029

在线出版日期：2012-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1190-1193