基于可拓理论的模拟电路故障诊断方法
针对模拟电路存在较多故障模式的诊断中易出现分类混叠的问题,提出一种基于可拓理论的故障诊断方法;建立定性地描述模拟电路故障诊断的物元模型,引入可拓集合中的关联函数和相关度;将响应信号进行小波分解提取其各层能量作为故障特征,并利用变尺度的混沌遗传算法优化各故障特征的权重系数,最后定量地计算各故障状态的可能程度;利用实验电路将该方法与另外两种诊断方法比较,实验结果表明,该方法故障分类正确率最高,耗时最短,从而可以证明该方法的有效性.
可拓理论、故障诊断、模拟电路、小波变换、混沌遗传算法
19
TN39(半导体技术)
2012-03-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
2908-2911,2921