模拟电路边界扫描功能性测试模型研究

摘要：

边界扫描技术在数字电路中已经基本成熟,但在模拟电路中还涉足较少.为了提高模拟电路系统的可靠性和可测性设计,对模拟电路面向功能性测试的边界扫描模型进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想,提出了利用数字寄存器控制模拟开关的边界扫描单元结构,设计了面向功能测试的模拟电路边界扫描模型,简化了测试存取口,降低了测试难度,同时构建了模型测试平台,实现了模型的功能测试功能.

关键词：模拟电路、边界扫描、ATAP控制器、功能测试

所属期刊栏目：19

分类号：TP212(自动化技术及设备)

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：2337-2339