基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究

摘要：

针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求.

关键词：可测试性、IEEE1149标准、系统级测试

所属期刊栏目：18

分类号：TP206(自动化技术及设备)

在线出版日期：2011-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：2710-2712