基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计

摘要：

为克服传统基于PC机的边界扫描测试系统所具有的独立性差,测试速度慢等缺点,从IEEE1149.1标准及边界扫描测试的功能需求入手,将边界扫描测试技术与SOPC技术相结合,提出了一种灵活、高效的嵌入式系统解决方案;该方案从IEEE标准及边界扫描测试的功能需求入手,设计了边界扫描测试系统的核心--边界扫描控制器,论文对该控制器的设计是采用自顶向下的模块化设计思想,VHDL语言描述实现;并将该控制器嵌入在具有Nios软核CPU的FPGA上,提高了系统设计的灵活性及边界扫描测试的速度;仿真结果表明该设计方案是正确可行的.

关键词：IEEE1149.1标准、边界扫描控制器、SOPC、NiosⅡ处理器

所属期刊栏目：18

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2011-02-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：2550-2552