一种新的电路故障自主仿真系统的研究与开发

摘要：

在航空航天等面临恶劣外部辐射环境的应用中,要特别考虑由空间辐射引发的单粒子翻转事件(Single-Eyent Upset)对数字电子系统带来的影响,必须对电子系统进行抗SEU性能的评估,以保证系统的可靠性;提出了一种新的SEU故障注入仿真平台;不同于传统的软件故障仿真方法,该平台基于FPGA来进行故障注入仿真,具有成本低、自主工作及测试快速的特点;实验显示单个SEU故障注人仅耗时46μs.

关键词：故障注入、单粒子翻转事件、可编程逻辑器件、重配置

所属期刊栏目：18

分类号：V443(航天仪表、航天器设备、航天器制导与控制)

资助基金：黑龙江省教育厅科研项目11531389

在线出版日期：2010-12-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：2016-2018