基于边界扫描的电子系统故障诊断技术研究

摘要：

电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果.美键词:边界扫描;电子系统;故障诊断;互连测试

机标关键词：边界扫描技术、电子系统、故障诊断技术、Technology、Fault Diagnosis、Based、Scan、互连测试、优化设计、复杂性、电路、测试性、系统级测试、贪婪策略、结果、故障模型、定性分离、测试系统、测试实验、测试设计

所属期刊栏目：18

分类号：TP206(自动化技术及设备)

资助基金：国家自然科学基金项目60871029

在线出版日期：2010-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：741-742,762