从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展

摘要：

边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向.

关键词：IEEE1149.X、边界扫描、测试性设计

所属期刊栏目：17

分类号：TP206(自动化技术及设备)

在线出版日期：2009-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1460-1462,1472