基于有向图的BIT级联虚警分析

摘要：

机内测试(BIT)是一种提高系统测试性和诊断能力的重要技术,然而系统部件之间及部件内部存在的关联耦合关系往往导致BIT虚警;采用基于有向图的方法对BIT进行虚警分析,在系统级联图中对一种耦合关系提出同胚的概念,并给出了优化方法,给出BIT虚警分析步骤,分析报故部件的故障可信度和虚警可信度;仿真算例表明该方法可有效地应用于BIT虚警的分析.

关键词：有向图、BIT、虚警、关联耦合、级联图

所属期刊栏目：17

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2009-08-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1243-1244,1275