并行自动测试系统硬件结构研究
为实现自动测试系统高效率和低成本,对并行自动测试系统的硬件结构进行了研究,提出了单处理器架构方式下的并行自动测试系统硬件结构;并具体对测试控制器,接口总线、仪器资源以及开关系统等各硬件模块的特点进行了研究,通过分析它们对并行测试的支持,明确了并行自动测试系统设计中的关键技术,可指导系统的实际开发.
自动测试系统、并行测试、硬件结构、仪器资源、开关系统
17
TP274(自动化技术及设备)
2009-06-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
820-821,853