逻辑内建自测试高故障覆盖率设计

摘要：

基于扫描的可测性设计技术需要大量空间存储测试矢量,并且难以实现全速测试,随着芯片规模越来越大,频率越来越高,其测试成本也将越来越高,逻辑内建自测试(Logic Built-In-Self-Test,LBIST)技术以其简单的硬件实现和较小的设计开销开始被业界广泛使用,但该技术也存在覆盖率较低的问题,主要原因在于:一是线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)产生的伪随机矢量的空间相关性;二是电路结构上对伪随机矢量的抵抗性;针对这两种原因给出了一些改善的方法,从而达到提高故障覆盖率的目的,为实际设计提供借鉴.

关键词：可测性设计、逻辑内建自测试、故障覆盖率

所属期刊栏目：16

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2008-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：24-26