10.3969/j.issn.1671-4598.2007.08.001
基于计算机技术的并行测试实现方法研究
并行测试已成为未来自动测试领域的发展趋势,而计算机技术的飞速发展为并行测试提供了许多思想和实现方法;在给出理想的并行测试结构框架后,文中着重从计算机技术应用的角度论述了并行测试的方法;多处理器和单处理器并行测试结构成为并行测试的两种主要体系,这其中又具体为分布式并行测试结构,协处理器结构,以及多进程、多线程结构等;这些结构体系各有特点,在搭建并行测试系统时应适情况选取,以便更大程度地提高测试速度、效率,节约测试资源.
并行测试、分布式结构、协处理器、多进程、多线程
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TP27;TP31(自动化技术及设备)
国防科技重点实验室基金51487020305JB3201
2007-10-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
981-983