系统芯片测试策略--IEEE P1500
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1671-4598.2005.02.006

系统芯片测试策略--IEEE P1500

引用
IEEE P1500标准旨在增强嵌入式核应用商和提供商之间的交流,为SOC的测试确定标准,以确保系统芯片的快速上市,降低芯片的开发周期和开发成本.从IEEE P1500标准的目的与意义、该标准定义的系统结构、标准的制订原则、测试的实现方式等角度对该标准进行详细的剖析,指出了该标准目前的进展状况和存在的问题,以及该标准与其他相关协议之间的关系.

SOC、IEEE P1500、嵌入式核

13

TN407(微电子学、集成电路(IC))

2005-05-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

113-115

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

计算机测量与控制

1671-4598

11-4762/TP

13

2005,13(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn