下一代自动测试系统体系结构与关键技术

摘要：

在总结自动测试系统发展现状的基础上,以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景,分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准,重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术,希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发.

关键词：自动测试系统、体系结构、关键技术

所属期刊栏目：13

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2005-03-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1-3,17