混合信号总线测试方法及应用研究

摘要：

简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149.4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片.使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行了简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试等.测试结果表明,IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的,并同时指出了其局限性.

关键词：KLIC、IEEE1149.4、测试方法、测试实践

所属期刊栏目：12

分类号：TP274(自动化技术及设备)

资助基金：国家部级科研项目41323020109

在线出版日期：2004-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：801-803,812