全反射现象中半明半暗视场的分界线位置的测量

摘要：

和平行光照射遮光物体产生的实边缘相比,全反射现象中半明半暗视场的分界线处的虚边缘情况更为复杂.使虚边缘质量有明显下降的主要因素有3个:光的色散、高频噪声和CCD光敏元处于临界状态所带来的问题.使用基于图像处理的测量方法,采用CCD作为成像器件,获取虚边缘附近的灰度图像.应用改进后的基于一阶微分期望值的亚像素边缘检测算法,可以快速、精确地检测到边缘的位置.经过实验验证,该方法的测量精度优于1个像素,并且具有良好的重复性.

关键词：全反射、CCD、边缘检测、图像测量

所属期刊栏目：12

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：406-407,422