基于非接触精密视觉测量的硬盘磁头头偏测量系统

摘要：

应用基于机器视觉的非接触测量技术对计算机硬盘磁头的头偏测量, 不仅满足了磁头生产防污、防ESD的需要, 而且实现了精密测量的需要; 对测量数据的采集处理以及SPC实时监控, 有效地实现了生产过程的控制和预报; 与FIS系统的连接实现了生产数据的可追溯性, 为生产管理现代化提供一个强有力的工具.系统已广泛应用于硬盘磁头生产线.

关键词：机器视觉、非接触精密测量、图形图像处理、数据库、数据采集与处理、SPC

所属期刊栏目：11

分类号：TP274.5(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：839-842