LD老化筛选及寿命测试系统

摘要：

介绍了半导体激光二极管(LD)老化及寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD老化筛选及寿命测试系统,该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的"P-t曲线",然后推断LD的使用寿命.

关键词：激光二极管、老化筛选、寿命测试

所属期刊栏目：11

分类号：TP249(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：250-253