10.3969/j.issn.1671-4598.2003.04.003
基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究
对VLSI 芯片互连电路测试过程数学描述模型及测试原理进行了研究,在此基础上提出了一种基于边界扫描技术的VLSI 芯片互连电路测试实现方案.以PC机为测试平台的测试实验结果表明:该方案成功地完成了边界扫描机制试验电路板上互连电路的桥接、S-A-1型、S-A-0型等多种类型故障的检测.
边界扫描、互连电路测试、超大规模集成电路
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TP206(自动化技术及设备)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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