10.3969/j.issn.1671-4598.2003.03.002
基于遗传算法优化的BDD描述的数字电路功能测试
针对数字电路的测试两大难点,采用二元判决图(BDD) 表示数字电路模型,同时由BDD生成测试矢量来完成数字电路的功能测试.在由VHDL描述完整电路功能的基础上用遗传算法对BDD的规模进行压缩优化.整个系统构成简单,自动化程度高,测试耗时少.
数字电路、遗传算法、功能测试、BDD
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TP274(自动化技术及设备)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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