基于遗传算法优化的BDD描述的数字电路功能测试

摘要：

针对数字电路的测试两大难点,采用二元判决图(BDD) 表示数字电路模型,同时由BDD生成测试矢量来完成数字电路的功能测试.在由VHDL描述完整电路功能的基础上用遗传算法对BDD的规模进行压缩优化.整个系统构成简单,自动化程度高,测试耗时少.

关键词：数字电路、遗传算法、功能测试、BDD

所属期刊栏目：11

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：163-164，167