10.3969/j.issn.1671-4598.1998.01.007
贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统
本文在介绍MIL-STD-883C标准集成电路老化筛选试验方法的基础上,详细介绍了"PIC-4集成电路高温动态老化实时测试系统"的设计过程,包括系统的总体结构、软硬件设计及其关键技术.
老化、老化中测试、集成电路、可靠性试验
TP3(计算技术、计算机技术)
2005-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
27-30
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10.3969/j.issn.1671-4598.1998.01.007
老化、老化中测试、集成电路、可靠性试验
TP3(计算技术、计算机技术)
2005-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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