10.3969/j.issn.1001-3695.2012.04.049
针对扫描阻塞结构的测试数据压缩方案
分析了集成电路测试面临的测试数据量大、测试应用时间长等问题,对常用的测试压缩方法进行了介绍,并在扫描阻塞测试结构基础上,提出了对数据进行部分编码压缩的方案.在附加硬件开销很小的情况下,进一步压缩了测试数据.理论分析和实验结果都表明了本压缩方案的可行性和有效性.
扫描阻塞结构、确定位、测试片段、泊松分布、编码压缩
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TP331(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金资助项目60773207;湖南省大学生创新实验资助项目2010-224-114
2012-06-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
1378-1380