10.16866/j.c0m.app.chem201602023
双率CARMA模型的广义最小方差自校正控制
针对一类双率采样的CARMA模型,研究了相关的自校正控制问题.基于双率采样以及含有噪声的数据,本文提出一个辅助模型来估计无法采样到的损失输出数据,并进一步采用随机梯度算法来估计模型参数.通过最小化最优预测输出的方差并结合Diophantine方程给出了基于辅助模型的广义最小方差自校正控制(AM-GMVSTC)策略.最后通过一个仿真例子说明提出算法的有效性.
自校正控制、双率系统、CARMA模型、辅助模型
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TP273(自动化技术及设备)
国家自然科学基金资助项目61203111,61304138
2016-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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