高岭土负载晶化NaY分子筛空间分辨分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.11719/com.app.chem20140111

高岭土负载晶化NaY分子筛空间分辨分析

引用
本文使用GPU计算单元基于聚类分析数学方法处理高岭土、NaY分子筛以及负载晶化NaY分子筛的透射电镜(TEM)图像.将所提取的几类图像的灰度数据信息,分别进行归一化、相关矩阵计算及特征分解、特征值和特征向量的提取以及灰度值向量的二维投影等过程处理,进而对高岭土负载晶化NaY分子筛进行空间分辨分析,并对高岭土负载晶化NaY分子筛空间各类基质可能的富集区域进行标示和分析.同时,基于分辨分析的结果,对高岭土负载晶化NaY分子筛的空间组构及表面的吸附扩散行为进行讨论,该分辨方法对于石油炼制领域广泛使用的复合共生分子筛或其它复合催化材料体系的分辨也有较大意义.同时,也采用了单晶衍射、电子能谱分析、表面面扫描以及频率响应等辅助分析方法对空间分辨分析的结果进行进一步的支持和论证.

负载晶化、灰度、特征空间、GPU、聚类分析

31

TQ015.9;TP391.9;O6-39(一般性问题)

中国石油化工股份有限公司抚顺石油化工研究院,院控课题011107

2014-05-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

48-54

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

计算机与应用化学

1001-4160

11-3763/TP

31

2014,31(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn