铁离子在ZSM-5分子筛中存在位置的理论研究

摘要：

对磷铁改性的ZSM-5分子筛粉末进行X射线扫描,获得了较高分辨率的衍射数据,并由X射线荧光分析数据得到分子筛的化学组成.采用分子模拟软件中的建模及结构优化工具,构建了硅铝比为23.77的ZSM-5分子筛的三维空间构型,用分子力学方法计算二价铁离子在分子筛孔道中的位置并用Rietveld精修的方法验证铁离子在ZSM-5分子筛孔道中的位置.结果表明,金属改性的ZSM-5分子筛中二价铁离子主要存在于十元环S形孔道和直孔道交叉处,少量存在于直孔道中.计算了Fe2+离子在孔道内的配位间距,对改性的ZSM-5分子筛进行了结构参数分析,最终确定了两种Fe2+在孔道内的确切坐标分数.

关键词：ZSM-5分子筛、粉末、X射线衍射、Rietveld精修、分子模拟

所属期刊栏目：29

分类号：TQ015.9;TP391.9;O6-39(一般性问题)

在线出版日期：2013-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：684-686