N2O与HX(X=F,Cl,Br)分子间作用的电子密度拓扑研究

摘要：

运用量子化学微扰理论MP2方法和密度泛函B3LYP方法,采用6-311++G(d,p)基组,对N2O分子与HX(X=F,Cl,Br)分子形成的氢键复合物进行构型优化和能量计算.利用电子密度拓扑分析方法对氢键复合物的拓扑性质进行了分析,探讨了分子间氢键作用的本质.研究结果表明,N2O分子与HX(X=F,Cl,Br)分子间可形成O…H-X和N…H-X 2类氢键;形成氢键后,作为电子受体的HX(X=F,Cl,Br)分子中的H-X键键长增加振动频率减小;氢键作用能按照NNO…HF、NNO…HCl、NNO…HBr 和ONN…HF、ONN…HCl、ONN…HBr的顺序递减;氢键形成过程中存在从电子给体到电子受体的电荷转移.复合物体系中的氢键作用介于共价键和离子键之间,并且以静电作用为主.

关键词：氢键复合物、弱相互作用、电子密度拓扑分析、分子中的原子理论

所属期刊栏目：28

分类号：O641(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目20801017,20771033,20973053;河北省自然科学基金资助项目B2008000138,B2008000141,B2010000371;河北省教育厅资助项目2007123,2009137,2009138;河北师范大学博士基金资助项目L2005B12,L2008B06

在线出版日期：2011-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：156-160