10.3969/j.issn.1001-4160.2010.10.020
双层结构PID控制器性能评估研究
针对工业过程常规PID控制回路普遍存在性能退化的现状,提出了1种基于双层结构的PID控制器性能评估方法,该方法可综合地评估PID控制器的性能.其中第1层次的评估只需最少量的过程信息,即采用最小方差基准和脉冲响应曲线方法对PID控制器的随机性性能和确定性性能两方面给出初步的评估.第2层次是基于PID结构的控制器性能评估,这个层次的评估更符合生产实际,但需要用到更多的过程知识和信息.最后将所提出的方法分别应用于仿真过程和工业实际过程.
PID控制器、性能评估:双层结构、随机性性能、确定性性能
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TP277;TQ021.8(自动化技术及设备)
国家自然科学基金资助项目60904039;国家高技术研究发展计划8632007AA04Z162;国家高技术研究发展计划8632008AA042902
2011-03-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
1383-1386