组扩展编码在测试数据压缩中的应用

摘要：

为了减少SoC芯片的测试数据,提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案.该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成.组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测试数据量.理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果,而且能够更好地适应于不同的测试电路.

关键词：测试数据压缩、变长-变长的编码、组扩展编码

所属期刊栏目：28

分类号：TP311.12;TP391(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目90407008;国家自然科学基金资助项目60633060;安徽省自然科学基金资助项目050420103;安徽省教育厅自然科学项目KJ2008B031

在线出版日期：2008-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2701-2703,2724