非同轴微波器件测试夹具设计方法研究与探讨∗
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10.3969/j.issn.1672-9722.2019.01.017

非同轴微波器件测试夹具设计方法研究与探讨∗

引用
论文根据非同轴微波器件的测试原理,提出非同轴微波器件的难点是测试夹具的设计,介绍了设计非同轴微波器件测试夹具的设计方法,包括结构设计方法和电路设计方法两个方面.文章还提出要实现非同轴微波器件的准确测试,需要对夹具实现校准,并且介绍了夹具校准的四种方法来实现对夹具的校准,包括端口延伸法、夹具上校准法、利用时间域和时间门功能的方法和去嵌入处理法.最后文章总结了非同轴微波器件夹具合理设计具有的意义.

非同轴、微波器件、测试、夹具

47

TN63(电子元件、组件)

2020-01-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

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1672-9722

42-1372/TP

47

2019,47(1)

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