DDR器件关键测试向量的设计∗

摘要：

双倍数据速率(Double Data Rate,DDR)DRAM由于其速度快、容量大,而且价格便宜,在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用.论文介绍了DDR器件的基本工作原理及需重点关注的操作过程,通过建立合适的时序关系,基于ATE设计测试向量,实现DDR器件的功能测试.

关键词：DDR、向量、测试

所属期刊栏目：47

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-01-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：29-32,78