存储器测试图形算法概述

摘要：

存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战.论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法.

关键词：存储器测试、测试图形、改进的齐步算法

所属期刊栏目：45

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2017-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：740-744