基于 STM32F103VF 测试某型导弹发控设备的测试精度与参数设计

摘要：

为实现装备保障快速检测、修理与维护，基于对 STM32F103VF 系列微控制器的研究，开发新型采集测试系统。文章主要对测试通道设计和精度需求进行分析，并应用于测试某型便携导弹发控设备，满足对装备实测要求，降低了电源的要求，大大缩小测试电路的尺寸，对测试设备实现了极大的小型化和便携化[1]，同时满足战场快速技术保障的战斗力要求。

关键词：STM32F103VF、微控制器、通道、发控设备

分类号：TP29(自动化技术及设备)

在线出版日期：2015-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：187-190,219