10.3969/j.issn1672-9722.2015.02.007
基于 STM32F103VF 测试某型导弹发控设备的测试精度与参数设计
为实现装备保障快速检测、修理与维护,基于对 STM32F103VF 系列微控制器的研究,开发新型采集测试系统。文章主要对测试通道设计和精度需求进行分析,并应用于测试某型便携导弹发控设备,满足对装备实测要求,降低了电源的要求,大大缩小测试电路的尺寸,对测试设备实现了极大的小型化和便携化[1],同时满足战场快速技术保障的战斗力要求。
STM32F103VF、微控制器、通道、发控设备
TP29(自动化技术及设备)
2015-03-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
187-190,219