10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.036
隐藏在金相试样制备技术之后的科学磁
现在,金相分析在破坏性物理分析(DPA )和失效分析试验中的应用已越来越广泛。金相试样制备的质量直接影响着金相分析试验结果是否准确,在极端情况下,不正确的操作可能得到的并不是“真实界面”,从而得到错误的结论。所以,论文对隐藏在金相试样制备技术之后的科学展开研究。
金相分析、金相试样制备技术、破坏性物理分析、失效分析
TG115(金属学与热处理)
2015-03-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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137-141