一种 FLEX 系列 FPGA 测试建模方案磁

摘要：

目前常用的 FPGA 器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法，其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了 FPGA 器件的结构和工作原理的基础上，提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案，对逻辑单元、嵌入式阵列和 I／O 双向管脚的覆盖率可达100％，且功能简单、结构清晰，易于模拟测试向量和故障定位。

关键词：FPGA 测试、查找表、逻辑单元、测试模型

分类号：TP317(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：113-116,136