基于 ATE 的单总线芯片测试方法研究磁

摘要：

单总线芯片是指将地址线、数据线、控制线合为一根信号线的一类集成电路，论文通过研究基于自动测试系统的单总线芯片测试方法，以单总线温度传感器芯片 DS18B20为例，具体介绍了其测试程序的开发过程。

关键词：单总线芯片、测试程序、DS18B20、自动测试系统

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：110-112