AT89系列单片机的测试技术磁

摘要：

单片机是系统设计中的关键器件。由于集成度高，功能复杂，如何简单全面的实现各部分功能测试是测试中的难点。论文以 AT89C55单片机为例，针对单片机的特点和应用，提出设计搭建最小系统方法，实现“学习法”获取测试图形向量，从而实现单片机的测试。

关键词：单片机、测试图形向量、测试技术、“学习法”

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：103-105,141