双端口静态存储器测试方法研究磁

摘要：

随着信息化和数字化技术的发展，双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度，增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析了双端口静态存储器的结构和功能，研究了双端口静态存储器的读写功能失效模式和仲裁控制模块功能失效模式，并提出了一种“同测”方法的测试算法设计，给出了基于 V93000测试系统的实现方法，有效地减少了测试向量操作长度，提高了测试效率。

关键词：双端口静态存储器、测试算法、测试向量、同测

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：83-86,112