10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.019
DDS 专用芯片静态参数测试方法研究磁
文章重点介绍了基于 ATE 设备的 DDS 专用芯片内嵌 DAC 静态参数的一种测试方法。由于 DDS 专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波电压测试 DAC 的传统方法并不能用于 DDS 专用芯片的静态参数测试,只能依靠间接的方式测试其内嵌 DAC 的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息,实现了 DDS 专用芯片内嵌 DAC 的测试自动化,且测试过程高效可靠。
DDS 专用芯片、数模转换器、静态参数测试
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2015-03-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
70-74