DDS 专用芯片静态参数测试方法研究磁

摘要：

文章重点介绍了基于 ATE 设备的 DDS 专用芯片内嵌 DAC 静态参数的一种测试方法。由于 DDS 专用芯片的自身特点，其只能输出一定频率的正弦波，测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的，所以利用线性斜波电压测试 DAC 的传统方法并不能用于 DDS 专用芯片的静态参数测试，只能依靠间接的方式测试其内嵌 DAC 的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息，实现了 DDS 专用芯片内嵌 DAC 的测试自动化，且测试过程高效可靠。

关键词：DDS 专用芯片、数模转换器、静态参数测试

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：70-74