FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁

摘要：

FPGA 是广泛应用于集成电路设计，片上系统等多领域，随着 FPGA 的广泛应用，对其可靠性的要求也越来越高，由于其结构和功能复杂，其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构，提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例，简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。

关键词：FPGA、可编程逻辑单元、扫描链、重配置、自动化测试

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：65-69