集成电路测试系统的竞争冒险磁
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10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.010

集成电路测试系统的竞争冒险磁

引用
在集成电路测试领域,因客观存在的通道传输延迟而导致集成电路测试系统对交流参数测量准确度降低是不可避免的。尽管时域反射技术的应用在一定程度上解决了这一问题,但是仍然无法完全解决传输延迟所带来的所有问题。论文以泰瑞达 J750EX 集成电路测试系统为平台,通过实验证实数字通道在传输延迟修正后存在逻辑异常的现象,并分析其发生的原因。

测试系统、数字通道、竞争冒险

TN492(微电子学、集成电路(IC))

2015-03-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

32-35

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计算机与数字工程

1672-9722

42-1372/TP

2015,(1)

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