一种数字集成电路标准样片的设计实现磁

摘要：

标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径，论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟，并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究，用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性，使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。最后给出了标准样片的不确定度评定和测量数据。

关键词：标准样片、溯源性、不确定度评定、定值

分类号：TN405(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：14-16,154