LVQ神经网络在磁瓦表面缺陷分类中的运用

摘要：

在基于磁瓦表面缺陷图像直方图、纹理、投影和形状的特征提取的基础上,提出了一种用LVQ神经网络进行缺陷分类的方法,对现场采集到的6种主要缺陷类型进行了试验.试验结果表明,基于LVQ神经网络的分类器训练与分类的时间短,多缺陷种类分类时准确率高.

关键词：磁瓦、表面缺陷、缺陷分类、LVQ神经网络

所属期刊栏目：37

分类号：TP391.4(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2010-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：147-150