X射线粉末衍射仪智能辅助校正系统

摘要：

X射线粉末衍射仪(X-Ray powder Diffraction,XRD)是物质研究的精密仪器,物理结构复杂,微小的硬件偏差会对衍射数据质量造成影响,对其硬件设备进行偏差校正将有效保证数据正确性,在校正偏差前需要进行偏差类型识别.通常衍射仪设备调校多由设备厂商专家使用专用仪器和设备逐项排查的方式进行偏差校正,对人员经验有较高依赖、调校过程复杂且效率低.为了提高偏差识别效率,本文探讨了X射线粉末衍射仪偏差类型及其产生原因,并开发了一套基于分类预测的X射线粉末衍射仪智能辅助校正系统.该系统采用通用计算机硬件平台,通过特征提取、模型训练等步骤分析标准样品衍射数据,自动化识别仪器状态、辅助校正.结果表明该系统可以快速识别偏差,达到辅助校正的目的.

关键词：X射线粉末衍射仪、辅助校正、分类

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在线出版日期：2018-12-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：75-80