基于亚像素边缘定位的排针参数精密测量

摘要：

为了提高排针参数的检测效率和精度,提出了一种利用亚像素边缘定位对排针进行非接触测量的方法.首先采用LOG算子对图像进行整像素级的边缘粗定位,在抑制噪声的同时,保持图像边缘的完整性.然后采用改进的Zemike矩进行亚像素边缘定位.最后通过最小二乘法拟合离散的边缘点得出排针的精确边缘.实验结果表明,该方法边缘定位精度高,稳定性好,满足排针在线检测的要求.

关键词：边缘定位、排针、亚像素、LOG算子、Zemike矩

所属期刊栏目：20

分类号：TP3;TN9

在线出版日期：2012-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：189-192