基于遗传算法的IP核测试调度优化

摘要：

测试调度能够很好的减少测试时间和降低测试成本.通过调度,SOC中尽可能多的IP核可以进行并行测试,然而过度的并行测试会引起功耗过高,对SOC产生不利影响.为了改善这个问题,考虑峰值功耗因素的限制,提出一种基于遗传算法的IP核测试调度优化方案,寻求最短测试时间.通过对ISCAS标准电路组成的SOC进行仿真实验,验证了该方案良好的优化效果,实现了IP核测试调度的可靠性和经济性.

关键词：IP核、并行测试、遗传算法、测试调度

所属期刊栏目：20

分类号：TS1;TN4

资助基金：国家自然基金项目60861003

在线出版日期：2011-12-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：181-183