基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计

摘要：

提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变.由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,而没有改变原来的测试矢量,因而故障覆盖率不会改变,这样既保证了高故障覆盖率又解决不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余.研究结果表明该方案不仅具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性.

关键词：低功耗设计、折叠集、折叠矢量、伪单输入跳变、确定测试

所属期刊栏目：17

分类号：TP3;TN4

资助基金：广西区自然基金0542050

在线出版日期：2008-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：107-111