Q控制图分析和控制软件过程的方法研究

摘要：

控制图被广泛用以判定软件过程度量数据的异常点,而软件过程的分析和控制方法目前也只使用了控制图这一种,但使用控制图进行过程分析前我们必须首先采集大量的数据以得出正态分布的参数,这一点使其不适合在数据采集量小、生命周期短、但对度量偏差要求反应及时的软件过程中使用.为了解决这一问题,本文提出使用Q控制图分析和控制软件过程的方法,并指出相较控制图而言,Q控制图更适合用于管理软件过程,并给出具体算法和实例.

关键词：Q控制图、软件过程度量、标准正态分布、公共原因偏差、可归属原因偏差

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2008-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：25-31