基于差错传播概率矩阵的时序电路软错误可靠性评估
在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中,电路的可靠性评估是非常重要的一个环节.该文提出了一种基于差错传播概率矩阵(Error Propagation Probability Matrix,EPPM)的时序电路软错误可靠性评估方法,即先将逻辑门和触发器在当前时钟周期对差错的传播概率用4种EPPM表示,再利用自定义的矩阵并积运算计算多周期情况下的差错传播概率,最后结合二项分布的特点计算时序电路的可靠度.用ISCAS' 89基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法是准确和有效的.
软错误、时序电路、差错传播概率矩阵、并积运算、二项分布
38
TN406(微电子学、集成电路（IC）)
国家自然科学基金61303042,60773207,61472123;湖南省教育厅科研基金14C0028;the National Natural Science Foundation of China under Grant Nos.61303042,60773207,and 61472123
2015-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共9页
923-931
