带时间参数的测试产生

摘要：

时延测试对于高速集成电路非常重要.本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统.该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形,并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变,其它输入为稳定的0或1,从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生.与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比,带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率,并且更接近于电路的实际.

关键词：时间参数、测试产生、波形敏化

所属期刊栏目：22

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金69733010

在线出版日期：2005-08-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：390-394