综合包级和类级度量的软件缺陷预测方法

摘要：

在基于软件产品度量值的缺陷预测中,度量值主要是基于两个层次:类/文件层次和包/组件层次.类级别的预测模型通常会有更好的预测效率,而包级别的模型往往能得到更好的查全率及查准率.提出综合类级别和包级别度量值进行缺陷预测的方法,在类级别预测的基础上,使用包级别预测的信息对类级别进行调整,在类级别预测中融合包级别预测中所隐含的问题域信息.通过基于Eclipse3.0系统的实验发现,该方法能够有效改善缺陷预测的效果.与类级别的缺陷预测模型相比,综合包级别度量值的缺陷预测方法提高了5％到8％的查全率.同时在预测效率上,测试出50％的缺陷,使用该方法可以有效减少3.6％到9.84％的代码检查量.

关键词：缺陷预测、软件测试、软件度量

所属期刊栏目：6

分类号：TP311.5(计算技术、计算机技术)

资助基金：The National Natural Science Foundation of China under Grant No.90818009

在线出版日期：2012-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：109-117